 時(shí)序及噪音分析培訓(xùn)班 |
| 入學(xué)要求 |
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學(xué)員學(xué)習(xí)本課程應(yīng)具備下列基礎(chǔ)知識(shí)：
◆ 電路系統(tǒng)的基本概念。 |
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班級(jí)規(guī)模及環(huán)境--熱線:4008699035 手機(jī):15921673576/13918613812( 微信同號(hào)) |
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堅(jiān)持小班授課，為保證培訓(xùn)效果，增加互動(dòng)環(huán)節(jié)，每期人數(shù)限3到5人。 |
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上課時(shí)間和地點(diǎn) |
上課地點(diǎn)：【上海】：同濟(jì)大學(xué)(滬西)/新城金郡商務(wù)樓(11號(hào)線白銀路站) 【深圳分部】：電影大廈(地鐵一號(hào)線大劇院站)/深圳大學(xué)成教院 【北京分部】：北京中山/福鑫大樓 【南京分部】：金港大廈(和燕路) 【武漢分部】：佳源大廈（高新二路） 【成都分部】：領(lǐng)館區(qū)1號(hào)（中和大道） 【沈陽(yáng)分部】：沈陽(yáng)理工大學(xué)/六宅臻品 【鄭州分部】：鄭州大學(xué)/錦華大廈 【石家莊分部】：河北科技大學(xué)/瑞景大廈 【廣州分部】：廣糧大廈 【西安分部】：協(xié)同大廈
近開(kāi)課時(shí)間(周末班/連續(xù)班/晚班）： 時(shí)序及噪音分析培訓(xùn)班：2025年7月14日..用心服務(wù)..........--即將開(kāi)課--...............................(歡迎您垂詢，視教育質(zhì)量為生命！) |
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實(shí)驗(yàn)設(shè)備 |
☆資深工程師授課
☆注重質(zhì)量
☆邊講邊練
☆合格學(xué)員免費(fèi)推薦工作
★實(shí)驗(yàn)設(shè)備請(qǐng)點(diǎn)擊這兒查看★ |
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新優(yōu)惠 |
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◆在讀學(xué)生憑學(xué)生證，可優(yōu)惠500元。 |
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質(zhì)量保障 |
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1、培訓(xùn)過(guò)程中，如有部分內(nèi)容理解不透或消化不好，可免費(fèi)在以后培訓(xùn)班中重聽(tīng)；
2、課程完成后,授課老師留給學(xué)員手機(jī)和Email,保障培訓(xùn)效果,免費(fèi)提供半年的技術(shù)支持。
3、培訓(xùn)合格學(xué)員可享受免費(fèi)推薦就業(yè)機(jī)會(huì)。 |
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時(shí)序及噪音分析培訓(xùn)班 |
1. MOS models
1.1 MOS basics
1.2 MOS I-V characteristics
1.3 Interconnect models
1.4 Scaling trends
2. Delay computation
2.1 Cell libraries
2.2 Effective capacitance
2.3 Interconnect delay
2.4 Cell model limitations
3. Static timing analysis
3.1 Topological analysis
3.2 Path enumeration
3.3 BFS vs DFS
3.4 Timing exception
3.5 Clock skew
3.6 Logic analysis
3.7 False path
4. Crosstalk timing analysis
4.1 Spice based models
4.2 Current based models
4.3 Noisy delay computation
4.4 Waveform effects
4.5 Timing window
4.6 Aggressor alignment
4.7 False coupling
5. Process variation
5.1 Process models
5.2 Chip-to-chip variation
5.3 Within chip variation
5.4 Process corners
6. Statistical timing analysis
6.1 Statistical timing analysis vs. static timing analysis
6.2 Method and implementation
6.3 Pron. & Cron.
7. Noise models
7.1 Coupling noise
7.2 Charge sharing
7.3 Leakage
7.4 Power supply noise
8. Static noise analysis
8.1 Noise computation
8.2 Noise immunity
8.3 Noise propagation
8.4 Multiple input noise
8.5 Simultaneous input/output noise
8.6 Noise window
8.7 Probabilistic analysis
9. Silicon timing/noise issues
9.1 Chip failure examples
9.2 Work-out methods to fix problems
10. 10. Signoff methodologies
10.1 Timing/noise signoff flow
10.2 Hierarchical analysis
10.3 Block timing models
10.4 Block noise models
10.5 Tool integration |
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