 射頻、存貯器測(cè)試技術(shù)培訓(xùn)班 |
| 入學(xué)要求 |
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學(xué)員學(xué)習(xí)本課程應(yīng)具備下列基礎(chǔ)知識(shí)：
◆ 電路系統(tǒng)的基本概念。 |
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班級(jí)規(guī)模及環(huán)境--熱線:4008699035 手機(jī):15921673576/13918613812( 微信同號(hào)) |
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堅(jiān)持小班授課，為保證培訓(xùn)效果，增加互動(dòng)環(huán)節(jié)，每期人數(shù)限3到5人。 |
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上課時(shí)間和地點(diǎn) |
上課地點(diǎn)：【上海】：同濟(jì)大學(xué)(滬西)/新城金郡商務(wù)樓(11號(hào)線白銀路站) 【深圳分部】：電影大廈(地鐵一號(hào)線大劇院站)/深圳大學(xué)成教院 【北京分部】：北京中山/福鑫大樓 【南京分部】：金港大廈(和燕路) 【武漢分部】：佳源大廈（高新二路） 【成都分部】：領(lǐng)館區(qū)1號(hào)（中和大道） 【沈陽(yáng)分部】：沈陽(yáng)理工大學(xué)/六宅臻品 【鄭州分部】：鄭州大學(xué)/錦華大廈 【石家莊分部】：河北科技大學(xué)/瑞景大廈 【廣州分部】：廣糧大廈 【西安分部】：協(xié)同大廈
近開課時(shí)間(周末班/連續(xù)班/晚班）： 射頻、存儲(chǔ)器測(cè)試培訓(xùn)班：2025年7月14日..用心服務(wù)..........--即將開課--...............................(歡迎您垂詢，視教育質(zhì)量為生命！) |
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實(shí)驗(yàn)設(shè)備 |
☆資深工程師授課
☆注重質(zhì)量
☆邊講邊練
☆合格學(xué)員免費(fèi)推薦工作
★實(shí)驗(yàn)設(shè)備請(qǐng)點(diǎn)擊這兒查看★ |
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新優(yōu)惠 |
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◆在讀學(xué)生憑學(xué)生證，可優(yōu)惠500元。 |
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質(zhì)量保障 |
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1、培訓(xùn)過程中，如有部分內(nèi)容理解不透或消化不好，可免費(fèi)在以后培訓(xùn)班中重聽；
2、課程完成后,授課老師留給學(xué)員手機(jī)和Email,保障培訓(xùn)效果,免費(fèi)提供半年的技術(shù)支持。
3、培訓(xùn)合格學(xué)員可享受免費(fèi)推薦就業(yè)機(jī)會(huì)。 |
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射頻、存貯器測(cè)試技術(shù)培訓(xùn)班 |
第一階段 射頻測(cè)試技術(shù)
內(nèi)容提要
這個(gè)課程對(duì)缺少射頻知識(shí)背景的工程師很有價(jià)值。同樣，也能能讓工程師有效地增長(zhǎng)
與微波術(shù)語(yǔ)、測(cè)試及系統(tǒng)相關(guān)的知識(shí)。這個(gè)課程使用簡(jiǎn)單的語(yǔ)言和圖片圖表來解釋
復(fù)雜的微波理論。
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Description |
第一天 |
- 什么是微波?
- 常用術(shù)語(yǔ)和簡(jiǎn)寫
- 微波技術(shù)運(yùn)用介紹
- 傳輸線理論? 傳輸線舉例?? 標(biāo)準(zhǔn)波理論
- 從時(shí)域到頻域
- 采樣的概念
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第二天 |
- 微波的構(gòu)成
- 散射參數(shù)
- 在ATE上測(cè)試的微波芯片
- 典型的微波芯片測(cè)試項(xiàng)
Teradyne泰瑞達(dá)公司微波測(cè)試儀器介紹 |
第二階段 存貯器測(cè)試技術(shù)
內(nèi)容提要 |
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Topic |
Description |
第一天 |
非永久性存貯器概述 |
- 非永久性存貯器
- 非永久性存貯器的評(píng)估
- 浮門芯片
- 電荷注入機(jī)制
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電可擦只讀存貯器和閃存 |
- 可擦除可編程的只讀存貯器
- 電可擦除可編程的只讀存貯器(EEPROM)
- EEPROM的結(jié)構(gòu)
- 閃存的工作機(jī)制
- 存貯器的或非門工作結(jié)構(gòu)
- 存貯器的或非門工作機(jī)制相關(guān)事項(xiàng)
- 嵌入式閃存
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第二天 |
閃存測(cè)試 |
- 存貯器測(cè)試概述
- 閃存測(cè)試方面
- 閃存測(cè)試的測(cè)試工具
- 直接訪問內(nèi)存
- Vt測(cè)試
- Stress模式
- 損耗和低Vt測(cè)試
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易測(cè)性和存貯單元修復(fù) |
- 大生產(chǎn)測(cè)試
- 測(cè)試的能力
- 產(chǎn)品特性表述
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第三天 |
存貯器的可靠性介紹 |
- 可靠性概要
- 存貯器序列Vt分配
- 存貯器序列氧化缺陷
- 主要的與良率和可靠性相關(guān)的事項(xiàng)
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存貯器可靠性測(cè)試方法 |
- 可靠性測(cè)試概要
- 存貯單元的耐受力
- 多級(jí)存貯可靠性
- 可靠性測(cè)試的結(jié)論
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附加的EEPROM的測(cè)試方法 |
- EEPROM的測(cè)試方法
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